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Arrhenius,阿倫尼烏斯,提出了一個表征芯片使用壽命的計算模型,即阿倫尼烏斯壽命模型。透過驗證晶體管在特定偏置電壓和溫度下的工作時長(HTOL),來折算出芯片的使用壽命。通過在汽車行業的統計觀察,阿倫尼烏斯壽命模型得到半導體行業的普遍認可。
阿倫尼烏斯模型是瑞典化學家阿倫尼烏斯于1889年在大量的化學反應數據基礎上總結出來的,它表明在化學反應過程中反應速率與反應溫度的關系。在一定范圍內,溫度越大,反應速率越高。
測試條件和公式是這樣的(基于汽車行業的統計值,汽車15年內平均運行時間為tu=12000小時,運行時平均環境下結溫Tu為87°C):
不同級別的芯片,所做的有偏壓高溫運行壽命(High Temperature Operating Life)、即HTOL測試條件是不同的,按照JESD22-A108規范,通常按照如下的約定條件來做測試:
將這些測試條件帶入到阿倫尼烏斯公式,就可以計算出芯片的理論使用壽命,通常消費級的理論計算壽命不到5年,而車軌級產品要保證至少15年;工業級產品通常也會采用125°C/1000hrs的條件做HTOL測試,理論使用壽命也能達到15年。需要注意這里僅僅是理論值,并不表示芯片過了這個時間點“陣亡”了。
當然阿倫尼烏斯模型也有局限性,其只考慮了溫度應力對物質的化學與物理變化的影響。實際上,很多的失效案例,除了溫度之外,還與此時的工作電壓、環境濕度、機械應力等非溫度的因素有關。
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