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AEC-Q100

車(chē)載グレードアナログ IC

新エネルギー車(chē)の活発な発展を受けて、自動(dòng)車(chē)用電子機(jī)器の需要は急速に成長(zhǎng)しており、従來(lái)の車(chē)と比較して、新エネルギー車(chē)のアナログチップの需要は電動(dòng)化とインテリジェンスによって推進(jìn)されています。パワーシステム、車(chē)體部分、コックピット部分、自動(dòng)運(yùn)転、車(chē)載エンターテインメント、ボディエレクトロニクス、照明などの分野での需要が高まっています。

新エネルギー車(chē)は、アナログチップなどの電子部品の信頼性に対する要求が非常に高いです。潤(rùn)石は自動(dòng)車(chē)グレードアナログチップの研究開(kāi)発と生産を全面的に推進(jìn)し、世界一流の車(chē)載グレードチップのメーカーと同じレベルのプロセス、材料及び技術(shù)を採(cǎi)用しています。IATF16949認(rèn)定を持ち、AEC-Q100認(rèn)定プロセスを経た実際の車(chē)載グレード量産の経験を持つウェーハメーカー及びTier 1車(chē)載グレードチップの量産経験を持つパッケージング會(huì)社と協(xié)力しています。たとえば、蘇州日月新半導(dǎo)體、通富微電などがあります。AEC-Q100Grade1 （濕度感度レベルがMSL1に達(dá)する）を満たす自動(dòng)車(chē)グレードの製品を開(kāi)発?導(dǎo)入しており、獨(dú)立した第三者の研究所によって自動(dòng)車(chē)グレードのAEC- Q100の認(rèn)証が行われます。それと同時(shí)に、國(guó)際的な第三者試験、認(rèn)証機(jī)関であるドイツのTüV Rheinland（テュフラインランド）の指導(dǎo)のもと、ISO 26262ASILDの機(jī)能安全プロセスを取り入れました。

AEC-Q100認(rèn)定品番

タイプ	製品	パッケージ	ウェーハ歩留まり	パッケージ設(shè)計(jì)及び材料準(zhǔn)備	パッケージDOE実験	パッケージテストパターン試作
オペアンプ	RS722PXK-Q1	SOP8	Done	Done	Done	Done
	RS724XP-Q1	SOP14	Done	Done	Done	Done
	RS8414PXQ-Q1	TSSOP14	Done	Done	Done	Done
	RS8452XK-Q1	SOP8	Done	Done	Done	Done
	RS8454XP-Q1	SOP14	Done	Done	Done	Done
	RS8454PXQ-Q1	TSSOP14	Done	Done	NA	TBD
	RS622XQ-Q1	TSSOP8	Done	Done	TBD
	RS8412PXK-Q1	SOP8	TBD
	RS721PXF-Q1	SOT23-5	Done	Done	Done	Done
	RS8557XF-Q1	SOT23-5	Done	Done	Done
	RS8411XF-Q1	SOT23-5	Done	Done	On going

コンパレータ	LM2901XQ-Q1	TSSOP-14	Done	Done	Done	Done
	LM2903XK-Q1	SOP8	Done	Done	Done	Done
	RS393XK-Q1	SOP8	Done	Done	Done	Done
	RS331XF-Q1	SOT23-5	Done	Done	On going
	RS8907XF-Q1	SOT23-5	Done	Done	On going

アナログスイッチ

RS2251XTSS16-Q1

TSSOP16

Done

レベルシフター	RS2T45XVS8-Q1	VSSOP8	Done	Done	Done	Done
	RS8T245YTSS24-Q1	TSSOP24	Done	Done	Done	Done
	RS4T245XTQW16-Q1	DHVQFN 16	Done	Done	Done	Done
	RS1T45XC6-Q1	SOT363	Done	Done	Done	Done
	RS1T34XF5-Q1	SOT23-5	Done	Done
	RS8T245YS24-Q1	SOP24	NA

ロジックチップ	RS244YTSS20-Q1	TSSOP20	Done	Done	Done	Done
	RS1G32XF5-Q1	SOT23-5	Done	Done	Done	Done
	RS1G08XC5-Q1	SC70-5	Done	Done	Done	Done
	RS1G14XC5-Q1	SC70-5	Done	Done	Done
	RS1G17XC5-Q1	SC70-5	Done	Done	Done
	RS1G00XC5	SC70-5	Done	TBD
	RS1G14XF5-Q1	SOT23-5	Done	Done

電圧基準(zhǔn)源

RS431 AXSF3-Q1

SOT23

On going

developing...

AEC-Q100は、車(chē)載アプリケーション、自動(dòng)車(chē)部品及び自動(dòng)車(chē)の車(chē)載電子機(jī)器向けに、アメリカの車(chē)載電子部品評(píng)議會(huì) (AEC) によって開(kāi)発?実裝された信頼性試験標(biāo)準(zhǔn)仕様です。品質(zhì)管理制御基準(zhǔn)を構(gòu)築し、車(chē)載電子機(jī)器の安定性と標(biāo)準(zhǔn)化を高めることを目的としています。AEC-Q100認(rèn)証は、集積回路メーカーが自動(dòng)車(chē)分野に參入するための入場(chǎng)券であり、チップの品質(zhì)と信頼性に対して非常に高いことが求められています。民生用半導(dǎo)體と比較して、自動(dòng)車(chē)用電子部品及びチップにはより高い信頼性が必要とされて、より過(guò)酷な環(huán)境で正常な動(dòng)作を維持することが求められています。現(xiàn)在、自動(dòng)車(chē)用電子機(jī)器の分野で一般的に使用されているAEC-Q100認(rèn)証規(guī)格は、車(chē)載電子部品評(píng)議會(huì)によって発行された一連の集積回路品質(zhì)試験規(guī)格であり、強(qiáng)制的な認(rèn)証システムではないものの、カーエレクトロニクス分野での一般的な認(rèn)証基準(zhǔn)となっています。

AEC-Q100試験項(xiàng)目

No.	試験項(xiàng)目	略稱(chēng)	試験方法
グループA 加速環(huán)境ストレス試験
A1	前処理	PC	J-STD-020 JESD22-A113
A2	部分的な溫度と濕度または高加速ストレス試験	THB/HAST	JESD22-A01 JESD22-A110
A3	高圧または偏りのない高加速?gòu)炅υ囼Yあるいは偏りのない溫度?濕度試験	AC/UHST/TH	JESD22-A102 JESD22-A118 JESD22-A101
A4	溫度サイクル	TC	JESD22-A104
A5	高溫保存壽命試験	HTSL	JESD22-A103
グループB加速壽命シミュレーション試験
B1	高溫壽命	HTOL	JEDEC JESD22-A108
B2	初期故障率	ELFR	AEC-Q100-008
グループ C パッケージ完全性試験
C1	タイワイヤーカット	WBS	AEC-Q100-001
C2	バインディングテンション	WBP	MIL - STD 883 Method2011
C3	はんだ付け性	SD	JESD22-B102
C4	物理的なサイズ	PD	JESD22-B100 JESD22-B108
C5	はんだボールのせん斷	SBS	AEC-Q100-010
C6	ピンの整合性	LI	JESD22-B105
グループ D チップウェーハ信頼性試験
D1	エレクトロマイグレーション	EM	/
D2	経時(shí)的な絶縁破壊	TDDB	/
D3	ホットキャリア注入	HCI	/
D4	負(fù)の溫度と圧力溫度の不安定性	NBTI	/
D5	ストレス移行	SM	/
グループE 電気的特性確認(rèn)試験
E1	ストレステスト前後の機(jī)能パラメータテスト	TEST	規(guī)格書(shū)
E2	靜電気放電 (HBM)	HBM	AEC-Q100-002
E3	靜電気放電 (CDM)	CDM	AEC-Q100-011
E4	ラッチアップ	LU	AEC-Q100-004
E5	配電	ED	AEC-Q100-009
E6	障害クラス	FG	AEC-Q100-007
E7	機(jī)能説明	CHAR	AEC-Q003
E8	電磁両立性	EMC	SAE JI752/3
グループF欠陥スクリーニング試験
F1	プロセス平均テスト	PAT	AEC-Q001
F2	統(tǒng)計(jì)収量分析	SBA	AEC-Q002

國(guó)際的な一流の自動(dòng)車(chē)グレードの自動(dòng)車(chē)電子メーカーと同じく、業(yè)界トップのCohuの三溫度テストハンドラを採(cǎi)用すると同時(shí)に、ウェーハレベルテストにおいて、低溫試験の使用を取り入れました。業(yè)界で最高レベルで最も一般的なTSK三溫度試験Proberを使用し、チップをより正確に指定溫度まで冷卻できます。潤(rùn)石は數(shù)十臺(tái)のCohu三溫度テストハンドラを段階的に購(gòu)入しており、最初のバッチがすでに使用されています。

三溫度テストプロセス